Карта зонда МЭМС
Платы датчиков MEMS (микроэлектромеханические системы) играют ключевую роль в современном тестировании полупроводников, обеспечивая точные тестовые контакты через миниатюрные электромеханические системы для обеспечения точной оценки производительности чипов. Наши карты датчиков MEMS сочетают в себе передовые технологии микро-нанообработки и прецизионную электрическую конструкцию, обеспечивая высоконадежные и точные решения для широкого спектра задач тестирования чипов.
Усовершенствованные платы датчиков MEMS для тестирования пластин
Карта зонда MEMS для тестирования пластин CIS
В нашей карте MEMS для тестирования пластин CIS (CMOS Image Sensor) используется передовая технология 2D MEMS для тестирования продуктов CIS. Тысячи МЭМС-зондов приварены лазером к керамической подложке, что обеспечивает исключительную плотность распределения зондов с минимальным ручным вмешательством.
Плата-зонд MEMS для тестирования пластин DRAM
Наша пробная плата MEMS для тестирования пластин DRAM, оптимизированная с помощью технологии MEMSFLEX, отвечает требованиям тестирования этих новых высокопроизводительных устройств DRAM с высокой плотностью размещения. Это повышает эффективность и снижает общую стоимость тестирования DRAM, обеспечивая надежную работу при оценке последних достижений в технологии памяти.
Особенности платы зонда MEMS
- Тестирование в одно касание: ваш оптимальный выбор
- Отличная изоляция перекрестных помех
- Конструкция пробника с высокой плотностью контактов и большим числом выводов
- Превосходная целостность сигнала и питания
- Низкое контактное сопротивление
- Гибкий контакт с минимальными царапинами, защита тестируемого устройства
Свяжитесь с нами сегодня, чтобы узнать, как наши передовые карты датчиков MEMS могут повысить эффективность и точность тестирования пластин.
